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一种显微镜上的裂变径迹样品固定装置 

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申请/专利权人:中国地质科学院地质力学研究所

摘要:本实用新型公开了一种显微镜上的裂变径迹样品固定装置,涉及显微镜领域,包括底座,所述底座的顶部开设有凹槽,所述凹槽的内壁固定连接有底板,所述底板内腔的底部固定连接有第一限位块,所述第一限位块的前侧设置有第二限位块,所述底座的顶部开设有第一定位孔,所述底座底部的两侧均开设有第二定位孔,两个第一限位块的顶部之间设置有顶板。通过通过设置第一限位块和第二限位块,能够用于对样品进行固定,通过设置定位组件,能够便于对第二限位块进行调节,通过设置拨动块,能够便于使用者移动移动块,通过设置镂空设计的凹槽,保证样品靶与高倍物镜镜头之间有安全距离,从而解决了背景技术中的问题。

主权项:1.一种显微镜上的裂变径迹样品固定装置,包括底座1,其特征在于:所述底座1的顶部开设有凹槽2,所述凹槽2的内壁固定连接有底板3,所述底板3内腔的底部固定连接有第一限位块4,所述第一限位块4的前侧设置有第二限位块5,所述底座1的顶部开设有第一定位孔7,所述底座1底部的两侧均开设有第二定位孔8,两个第一限位块4的顶部之间设置有顶板9,所述凹槽2内腔底部的两侧均开设有限位槽10,所述限位槽10的内壁固定连接有定位组件6。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国地质科学院地质力学研究所 一种显微镜上的裂变径迹样品固定装置

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