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申请/专利权人：北京市农林科学院智能装备技术研究中心
摘要：本发明涉及农作物施药技术领域，提供一种果树冠层叶片面积测量方法、电子设备及其测量装置，上述测量方法包括：获取果树冠层的图像，根据果树冠层的图像确定第一叶表面积。获取果树冠层的第一超声波回波信号，将第一超声波回波信号输入叶片重叠率探测模型，以确定果树冠层的第一叶片重叠率。根据第一叶表面积和第一叶片重叠率计算果树冠层的第一总叶片面积。本发明的果树冠层叶片面积测量方法，通过要获取果树冠层的图像，计算图像中的第一叶表面积，向果树冠层发射超声波，采集回波信号结合叶片重叠率探测模型，确定果树冠层的第一叶片重叠率，结合第一叶表面积和第一叶片重叠率计算第一总叶片面积，流程简单，准确率高。
主权项：1.一种果树冠层叶片面积测量方法，其特征在于，包括：获取果树冠层的图像，根据所述果树冠层的图像确定第一叶表面积；获取所述果树冠层的第一超声波回波信号，将所述第一超声波回波信号输入叶片重叠率探测模型，以确定所述果树冠层的第一叶片重叠率；根据所述第一叶表面积和所述第一叶片重叠率计算所述果树冠层的第一总叶片面积；其中，所述叶片重叠率探测模型是基于叶片重叠率样本和对应的超声波回波信号样本构建。
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百度查询： 北京市农林科学院智能装备技术研究中心 果树冠层叶片面积测量方法、电子设备及其测量装置
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