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申请/专利权人：深圳TCL数字技术有限公司

申请日：2021-09-07

公开（公告）日：2024-08-23

公开（公告）号：CN113866536B

专利技术分类：

专利摘要：本申请涉及一种温升检测方法、装置和温升检测系统，温升检测方法包括获取待测设备对应的模型编码，并根据模型编码调取对应的设备模型以及控制参数；通过数据采集设备实时采集待测设备在当前工作模式下的外部温升数据，并基于位置对应关系和温度修正值，对外部温升数据进行分析得到待测设备内各元器件对应的实际温升；若在小于或等于当前预设时间内实际温升变为稳定状态，则通过数据采集设备实时采集待测设备在下一个工作模式下的温升数据；在完成对待测设备在所有工作模式下的检测时，生成检测报告，从而实现自动化检测设备的温升，提升了检测的效力，避免检测过程中人力投入，降低检测成本。

专利权项：1.一种温升检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测设备对应的模型编码，并根据所述模型编码调取对应的设备模型以及控制参数；所述设备模型包括所述待测设备外部发热位置与内部元器件的位置对应关系；所述控制参数包括所述待测设备内各元器件对应的温度修正值；获取所述位置对应关系，包括：获取测试样机的外观图像、内部图像和元器件图像；根据所述外观图像、所述内部图像和所述元器件图像进行建模，得到所述测试样机内各元器件的相对位置；在所述测试样机处于工作状态下，获取所述测试样机的外部温度数据和所述测试样机内各元器件对应的器件温度数据；处理所述外部温度数据和所述器件温度数据，得到所述测试样机的内部发热位置，以及所述测试样机的外部发热位置；建立所述测试样机内各元器件的相对位置、所述内部发热位置以及所述外部发热位置之间的关系，得到所述待测设备外部发热位置与内部元器件的位置对应关系；通过数据采集设备实时采集所述待测设备在当前工作模式下的外部温升数据，并基于所述位置对应关系和所述温度修正值，对所述外部温升数据进行分析得到所述待测设备内各元器件对应的实际温升；若在小于或等于当前预设时间内所述实际温升变为稳定状态，则通过所述数据采集设备实时采集所述待测设备在下一个工作模式下的温升数据；在完成对所述待测设备在所有工作模式下的检测时，生成检测报告。

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