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申请/专利权人：深圳市元征科技股份有限公司
摘要：本申请公开了一种胎压传感器芯片校验方法、装置、设备及介质，涉及传感器技术领域，包括：对胎压传感器芯片的芯片校验区域进行区域划分，以得到若干待校验区域；按照预设数据校验方式对各待校验区域进行区域校验，以得到若干个对应的第一校验值；按照预设数据校验方式对所有第一校验值进行二次校验，以得到第二校验值；将第二校验值与预设芯片校验值进行比较，若比较结果一致，则表征胎压传感器芯片通过校验，若比较结果不一致，则表征胎压传感器芯片未通过校验。二次校验的方式能确保传感器校验区数据得到充分校验，防止校验不足导致编程出错从而导致传感器运行出错。
主权项：1.一种胎压传感器芯片校验方法，其特征在于，包括：对胎压传感器芯片的芯片校验区域进行区域划分，以得到若干待校验区域；按照预设数据校验方式对各所述待校验区域进行区域校验，以得到若干个对应的第一校验值；按照所述预设数据校验方式对所有所述第一校验值进行二次校验，以得到第二校验值；将所述第二校验值与预设芯片校验值进行比较，若比较结果一致，则表征所述胎压传感器芯片通过校验，若比较结果不一致，则表征所述胎压传感器芯片未通过校验。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市元征科技股份有限公司 一种胎压传感器芯片校验方法、装置、设备及介质
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