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集成电路中的电路变更检测 

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申请/专利权人:ARM有限公司

摘要:一种具有电路变更检测的系统可以包括:屏蔽物,其在集成电路上方的至少一个金属层中;以及检测器,其耦合到该屏蔽物以检测由于该屏蔽物的物理变更而引起的该屏蔽物的一个或多个屏蔽线的阻抗特性的变化。屏蔽线可以布置在一个或多个金属层中,并且以诸如平行线和蛇形之类的形状布置来覆盖区域。检测器可以包括一个或多个比较器,以检测大于公差值的阻抗差异。可以在检测到该阻抗差异时发起适当的对策响应。

主权项:1.一种用于电路变更检测的系统,包括:屏蔽物,其在集成电路上方的至少一个金属层中并包括多个屏蔽线;和检测器,其耦合到所述屏蔽物,以检测由于所述屏蔽物的物理变更而引起的所述屏蔽物的多个屏蔽线中的一个或多个屏蔽线的阻抗特性的变化,其中,所述检测器包括比较器,其中所述比较器包括:第一输入节点和第二输入节点,第一输入节点选择性地耦合到所述屏蔽物,第二输入节点耦合成接收基准电压;以及用于每个屏蔽线的三个开关,这三个开关包括:第一开关,其选择性地将屏蔽线的一端耦合到电压供应线;第二开关,其选择性地将屏蔽线的一端耦合到第一电压线;以及第三开关,其选择性地将屏蔽线的另一端耦合到比较器的第一输入节点;其中,当所述多个屏蔽线中的一个耦合到所述电压供应线和第一输入节点并且所述多个屏蔽线中的另一个耦合到第一电压线和第一输入节点时,所述比较器读取第一输入节点处的中间电压VMID;并且当VMID与基准电压之间的电压差大于公差值时,所述比较器输出错误信号。

全文数据:

权利要求:

百度查询: ARM有限公司 集成电路中的电路变更检测

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