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申请/专利权人：甬矽电子(宁波)股份有限公司
摘要：本公开提供的一种测试治具和测试设备，涉及半导体测试技术领域。该测试治具包括测试底座、测试板和探针，测试底座用于固定电路板上的待测芯片；测试板安装于测试底座上，测试板设有容置槽，容置槽用于容纳待测芯片；探针的一端伸入测试板的容置槽内，与待测芯片连接；另一端用于与测试仪器连接。该测试治具可以对上板后的待测芯片进行测试，测试效率高，操作快捷方便。
主权项：1.一种测试治具，其特征在于，包括：测试底座，用于固定电路板上的待测芯片；测试板，所述测试板安装于所述测试底座上，所述测试板设有容置槽，所述容置槽用于容纳所述待测芯片；探针，所述探针的一端伸入所述测试板的容置槽内，与所述待测芯片连接；另一端用于与测试仪器连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 甬矽电子(宁波)股份有限公司 测试治具和测试设备
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