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申请/专利权人:苏州国芯科技股份有限公司
摘要:本申请公开了一种MCU调试方法、装置、设备及介质,涉及集成电路设计技术领域,应用于包含多个CPU的MCU,包括:对当前调试信息进行JTAG协议解析,以得到原始控制信号和CPUID;将所述原始控制信号进行JTAG多核命令解析,以得到多个控制命令,并将所述控制命令同步发送至各个CPU;生成与所述CPUID对应的CPU选择信号,并控制各个所述CPU中与所述CPU选择信号对应的目标CPU接收所述控制命令,以便所述目标CPU基于所述控制命令对所述MCU进行调试,并生成调试数据。通过上述方案,降低MCU调试的成本,并提高MCU调试的灵活性、准确度以及调试速度。
主权项:1.一种MCU调试方法,其特征在于,应用于包含多个CPU的MCU,包括:对当前调试信息进行JTAG协议解析,以得到原始控制信号和CPUID;将所述原始控制信号进行JTAG多核命令解析,以得到多个控制命令,并将所述控制命令同步发送至各个CPU;生成与所述CPUID对应的CPU选择信号,并控制各个所述CPU中与所述CPU选择信号对应的目标CPU接收所述控制命令,以便所述目标CPU基于所述控制命令对所述MCU进行调试,并生成调试数据。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 苏州国芯科技股份有限公司 MCU调试方法、装置、设备及介质
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