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申请/专利权人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要:本发明涉及光学干涉成像技术领域,尤其涉及一种稀疏孔径成像系统中频对比度的提升方法。通过增大某一个子孔径的直径提升中频对比度,子孔径的位置通过评价函数确定,包括:确定所述稀疏孔径成像系统的孔径构型和子孔径直径D,指定子孔径直径增大的倍数K;设定某子孔径中心到其他子孔径中心的最小距离为d,计算2dD‑1>K的子孔径的评价函数;根据评价函数的结果,筛选出求解的评价函数值最小的子孔径点位;将所得子孔径的直径增加K倍,使所述稀疏孔径成像系统的中频对比度提升。优点在于:适用于各种构型的稀疏孔径成像系统;根据评价函数筛选出评价函数值最小的子孔径点位,增大该子孔径的直径,提升中频对比度。
主权项:1.一种稀疏孔径成像系统中频对比度的提升方法,所述稀疏孔径成像系统的子孔径直径相同,其特征在于:通过增大某一个子孔径的直径提升中频对比度,子孔径的位置通过评价函数确定,所述评价函数F的表达式为: ;式中,为子孔径直径,为波长,为焦距,为稀疏孔径成像系统的调制传递函数,为稀疏孔径成像系统的调制传递函数截止频率,为截止频率为的单孔径成像系统的调制传递函数,为频域上调制传递函数的空间频率的极坐标。
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百度查询: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种稀疏孔径成像系统中频对比度的提升方法
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