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申请/专利权人：苏州宽温电子科技有限公司
摘要：本申请实施例提供了一种电路良率分析方法、装置、存储介质及电子设备，电路良率分析方法，包括：获取目标电路集中包含的各目标电路的电路数据；将各目标电路的电路数据输入预先训练的目标径向基回归模型，输出各目标电路对应的中间预测结果，目标径向基回归模型是通过均匀采样得到的第一样本电路集训练得到的；将各中间预测结果输入预先训练的目标多层感知器神经网络，输出各目标电路对应的预测结果，目标多层感知器神经网络是通过正态分布采样得到的第二样本电路集训练得到的；根据各目标电路对应的预测结果和失效阈值，确定目标电路集中目标电路的良率。本申请通过替代SPICE仿真，缩短了良率分析时间，提升了分析效率，同时降低了成本。
主权项：1.一种电路良率分析方法，其特征在于，包括：获取目标电路集中包含的各目标电路的电路数据，其中，每个所述目标电路的电路数据包括所述目标电路中MOS管的工艺参数；将各所述目标电路的电路数据输入预先训练的目标径向基回归模型，输出各所述目标电路对应的中间预测结果，所述目标径向基回归模型是通过均匀采样得到的第一样本电路集训练得到的；将各所述中间预测结果输入预先训练的目标多层感知器神经网络，输出各所述目标电路对应的预测结果，所述目标多层感知器神经网络是通过正态分布采样得到的第二样本电路集训练得到的；根据各目标电路对应的预测结果和失效阈值，确定所述目标电路集中目标电路的良率。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州宽温电子科技有限公司 电路良率分析方法、装置、存储介质及电子设备
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