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申请/专利权人：昆山市金康电子有限公司

摘要：本发明实施例提供一种天线测试系统及方法，属于天线测试技术领域。所述系统包括：信号采集单元包括初始化模块、控制模块和测试架；初始化模块用于系统启动后基于待测天线的接入参数执行测试参数初始化；所述测试架用于接入待测天线，并执行待测天线对应的测试流程；所述控制模块用于基于待测天线的参数确定待执行的测试流程；所述信号处理单元用于对所述检测信号执行数学吸收反射抑制，并基于抑制后的检测信号生成待测天线的测试结果报告。本发明方案实现了天线接入自动感知，并基于接入天线自适应执行参数初始化，提高了天线测试的测试效率。且本发明方案解决了小尺寸天线测试过程中容易因为测量伪影导致的测量精度不高的问题。

主权项：1.一种天线测试系统，其特征在于，所述系统包括：信号采集单元和信号处理单元；所述信号采集单元包括初始化模块、控制模块和测试架；所述初始化模块用于系统启动后基于待测天线的接入参数执行测试参数初始化；所述测试架在预构建的安静区内旋转，用于接入待测天线，并执行待测天线对应的测试流程；以及用于基于所述测试流程回收检测信号；所述控制模块用于基于待测天线的参数确定待执行的测试流程；其中，所述基于待测天线的参数确定待执行的测试流程，包括：基于待测天线的工作频率确定标准天线的采样率；基于待测天线的测试需求确定反射器的运行参数以及所述测试架的旋转范围；基于所述标准天线的采样率、所述反射器的运行参数和所述测试架的旋转范围生成待测天线的参数确定待执行的测试流程；所述基于待测天线的工作频率确定标准天线的采样率包括：响应于待测天线接入信号，对待测天线的芯片执行频率扫描；基于频率扫描结果确定待测天线的芯片的工作频率范围，并基于待测天线的芯片的工作频率范围确定待测天线的芯片工作频率最大值；确定所述工作频率最大值的奈奎斯特采样率；基于所述奈奎斯特采样率确定标准天线的采样率；所述基于待测天线的测试需求确定反射器的运行参数，包括：基于用户触发的测试内容，确定待测天线是否存在电磁干扰场景下的测试需求；若存在，则基于所述用户触发的测试内容执行电磁干扰场景模拟；基于模拟的电磁干扰场景，确定干扰电磁强度范围及各干扰电磁强度等级发生概率；基于所述干扰电磁强度范围和所述各干扰电磁强度等级发生概率生成所述反射器的运行时序表，基于所述运行时序表动态调整所述反射器的运行参数；所述信号处理单元用于对所述检测信号执行数学吸收反射抑制，并基于抑制后的检测信号生成待测天线的测试结果报告；所述初始化模块包括：标准天线，设置在所述测试架上，包括多种天线类型，用于基于待测天线的接入参数确定对应类型的标准天线，并基于确定的标准天线在测试参数初始化执行起始时刻开始运行测试参数初始化；接收天线，用于接收标准天线运行过程中的发射信号；校正模块，用于自适应旋转所述测试架，并基于实时的发射信号、标准天线的实时位置和标准天线的基础参数执行测试参数初始化；所述基于实时的发射信号、标准天线的实时位置和标准天线的基础参数执行测试参数初始化，包括：基于标准天线的实时位置确定标准天线在安静区内的实时坐标；基于标准天线在安静区内的实时坐标与接收天线所处的坐标确定标准天线与接收天线之间的位置关系；其中，所述标准天线与所述接收天线处于同一坐标系；基于标准天线与接收天线之间的位置关系和所述标准天线的基础参数计算接收天线位置处的模拟发射信号；对比所述模拟发射信号和接收天线接收到的发射信号，基于偏差情况对测试参数进行校正，执行测试参数初始化。

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