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申请/专利权人：北京久在航空科技有限公司
摘要：本申请提供了一种基于二进制码的缺陷模式识别方法及系统，该方法包括获取当前测试用例在待测程序第一次运行时，产生的二进制数据流；将二进制数据流与预设缺陷模式进行匹配，如果匹配上了某种预设缺陷模式，则被识别出某种缺陷，直到匹配完所有数据流。在上述方案中，直接通过二进制缺陷模式特征，进行代码缺陷识别不用经过源代码语法分析和词法分析、不用构造抽象语法树、不用构造控制流图和符号等系列分析过程，而是直接扫描二进制码并与缺陷模式特征相比较，符合缺陷特征模式的，就可以确定出代码的缺陷，经过统计最终生成缺陷报告，分析过程简单，检测缺陷效率较高。
主权项：1.一种基于二进制码的缺陷模式识别方法，其特征在于，包括以下步骤：获取当前测试用例在待测程序第一次运行时，产生的二进制数据流；将二进制数据流与预设缺陷模式进行匹配，如果匹配上了某种预设缺陷模式，则被识别出某种缺陷，直到匹配完所有数据流。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京久在航空科技有限公司 一种基于二进制码的缺陷模式识别方法及系统
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