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一种无掩膜磁通门传感器芯片集成制造方法 

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申请/专利权人:浙江朗德电子科技有限公司;上海交通大学

摘要:本申请涉及MEMS集成微制造的技术领域,尤其是涉及一种无掩膜磁通门传感器芯片集成制造方法,包括以下步骤:获取待处理衬底,并在待处理面获取底层凹槽阵列以及底层导电铜膜,以形成底层线圈;在底层线圈的两端留出导电通孔;采用3D打印以获取磁芯放置凹槽,并继续保留导电通孔;采用电化学沉积增材3D打印纯铜填满导电通孔以形成铜连接导体;采用3D打印形成顶层线圈的顶层凹槽阵列图形和顶层电极凹槽图形;采用电化学沉积增材3D打印纯铜以获取顶层铜膜,顶层铜膜填满顶层凹槽阵列,同时填满顶层电极凹槽形成铜电极,形成完整的无掩膜磁通门传感器芯片。本申请简化了制造工艺流程,缩短了制造周期,降低了芯片成本。

主权项:1.一种无掩膜磁通门传感器芯片集成制造方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,获取待处理衬底(1),并在所述待处理衬底(1)的待处理面采用3D打印获取底层线圈(3)的底层凹槽阵列图形,后续操作步骤中的工艺均在所述待处理面上进行;步骤S2,在步骤S1形成的所述待处理衬底(1)上采用电化学沉积增材3D打印以获取底层导电铜膜,所述底层导电铜膜填满所述底层凹槽阵列,且所述底层导电铜膜与所述底层凹槽阵列上表面平齐,以形成所述底层线圈(3);步骤S3,在步骤S2形成的所述底层线圈(3)上采用3D打印获取绝缘层,所述绝缘层完整覆盖所述底层线圈(3),并在所述底层线圈(3)的两端留出导电通孔(4),所述导电通孔(4)位于所述底层导电铜膜两端的上方,且所述导电通孔(4)上方未覆盖所述绝缘层;步骤S4,在步骤S3形成的所述待处理衬底(1)上采用3D打印以获取磁芯放置凹槽(5),并继续保留所述导电通孔(4),以及将预先制备的磁芯(6)放置在所述磁芯放置凹槽(5)的底部,在所述磁芯放置凹槽(5)内采用3D打印填充聚酰亚胺以覆盖所述磁芯(6),且所述填充聚酰亚胺与所述磁芯放置凹槽(5)上表面平齐;步骤S5,在步骤S4形成的所述待处理衬底(1)上采用电化学沉积增材3D打印纯铜填满所述导电通孔(4)以形成铜连接导体(7),所述铜连接导体(7)表面与所述磁芯放置凹槽(5)上表面平齐;步骤S6,在步骤S5形成的所述待处理衬底(1)上采用3D打印形成顶层线圈(8)的顶层凹槽阵列图形和顶层电极凹槽图形;步骤S7,在步骤S6形成的所述待处理衬底(1)上采用电化学沉积增材3D打印纯铜以获取激励线圈(9)和感应线圈(10)的顶层铜膜,所述顶层铜膜填满所述顶层凹槽阵列以形成通电导线,同时填满所述顶层电极凹槽形成铜电极(11),且所述顶层铜膜上表面与所述顶层凹槽阵列上表面平齐,形成完整的无掩膜磁通门传感器芯片。

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权利要求:

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