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申请/专利权人：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
摘要：本发明公开了一种基于模糊控制的集成电路测试系统校准方法及装置，其通过建立测试系统校准模型，并基于测试系统的测试程序运行所述校准模型，根据校准装置的预设校准值与测试系统测量值之间的偏差控制矩阵开关切换不同的测试通道，查找偏差在预设误差范围内的最优测量通路；并根据最优测量通路的测量误差，对校准模型的校准参数进行调整，直至其校准结果与预设结果一致，从而保障校准过程的高效性、可靠性以及通用性。
主权项：1.一种基于模糊控制的集成电路测试系统校准方法，其特征在于，包括如下步骤：根据测试系统的测试范围，建立测试系统校准模型；基于测试系统的测试程序运行所述校准模型，根据校准装置的预设校准值与测试系统测量值之间的偏差控制矩阵开关切换不同的测试通道，查找偏差在预设误差范围内的最优测量通路；根据最优测量通路的测量误差，对校准模型的校准参数进行调整，直至其校准结果与预设结果一致；所述校准模型中校准参数的取值范围和对应关系满足测试系统的测试范围，所述校准参数包括电压参数、电流参数和精密电阻参数，所述校准模型包括一条或多条校准参数的取值范围和对应关系满足测试系统的测试范围的校准回路，校准模型的校准板上分别设有4条校准通道，4条校准通道上分别设有10Ω、100Ω、1kΩ、10kΩ的精密电阻，在进行测试系统校准时，分别将上述4条校准通道与测试系统的其中4条测试通道对接连通，形成4条校准回路；所述最优测量通路的测量误差，具体为校准装置的回读值与测试系统的预期测量值之间的偏差。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国船舶重工集团公司第七0九研究所 基于模糊控制的集成电路测试系统校准方法及装置
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