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申请/专利权人：联合光科技(北京)有限公司
摘要：本发明公开了基于视觉成像的光学元件表面污染物快速检测方法，具体涉及光学元件检测技术领域，包括以下步骤：将光学元件表面划分为多个检测区域并进行成像采集；分析每个检测区域的成像信息，生成环境变化剧烈指数和图像采集异常指数；综合分析生成检测区域变化异常系数；根据异常系数将检测区域划分为采纳或非采纳数据区域；分析环境变化剧烈指数的差异程度，决定重新采集区域；推理重新采集图像时的优化方向；不需重新采集时，将所有图像汇总用于污染物检测；本发明能够准确评估各检测区域的图像采集质量，确保环境条件对图像采集的影响符合预设标准，从而提升整体图像数据质量，并且可以避免不必要的全面重新采集，节约时间和资源。
主权项：1.基于视觉成像的光学元件表面污染物快速检测方法，其特征在于，包括以下步骤：将光学元件的表面划分为多个检测区域并对每个检测区域进行成像采集；分析每个检测区域的成像采集过程中的信息，分别生成环境变化剧烈指数和图像采集异常指数；基于环境变化剧烈指数和图像采集异常指数进行综合分析，生成检测区域变化异常系数；基于检测区域变化异常系数将每个检测区域均划分为采纳数据区域或非采纳数据区域；对所有检测区域的环境变化剧烈指数进行差异程度分析，基于差异程度分析结果对重新进行图像采集的区域类型进行判断并进行重新采集图像；基于环境变化剧烈指数、图像采集异常指数、差异程度分析的结果，对重新采集图像时的优化方向进行推理；不需要进行重新采集图像时，将所有采集到的图像进行汇总并作为表面污染物检测的依据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 联合光科技(北京)有限公司 基于视觉成像的光学元件表面污染物快速检测方法
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