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申请/专利权人：同济大学
摘要：本发明公开了一种连续激光作用下光学元件热效应的测试装置，涉及激光技术领域，包括连续激光准直系统、样品温度测试系统、波前相位测试系统、光束质量测试系统、计算机，连续激光准直系统接收连续激光发射装置发射的大功率激光束，并输出测试激光，测试激光经过样品温度测试系统产生反射光和透射光，反射光和透射光分别进入波前相位测试系统或光束质量测试系统。本发明采用上述结构的一种连续激光作用下光学元件热效应的测试装置，能够实现连续激光作用下的光学元件温升测试、波前形状和相位畸变测试以及光束质量测试的多种性能测试。
主权项：1.一种连续激光作用下光学元件热效应的测试装置，其特征在于：包括连续激光准直系统、样品温度测试系统、波前相位测试系统、光束质量测试系统、计算机，连续激光准直系统接收连续激光发射装置发射的大功率激光束，并输出测试激光，测试激光经过样品温度测试系统产生反射光和透射光，反射光和透射光分别进入波前相位测试系统或光束质量测试系统。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 同济大学 一种连续作用下光学元件热效应的测试装置
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