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申请/专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日：2023-03-22
公开（公告）日：2024-09-27
公开（公告）号：CN118707612A
专利技术分类：
专利摘要：本发明提供了一种检查设备、检查方法以及检查系统。检查设备包括：移动框架；透射成像装置，安装在移动框架上，限定沿第一方向延伸的检查通道，配置成能够构建位于检查通道上的被检查对象的透射图像；衍射检测装置，安装在移动框架上，配置成能够检测被检查对象的至少一部分的特性；其中移动框架能够承载透射成像装置和衍射检测装置沿第一方向移动。
专利权项：1.一种检查设备，包括：移动框架；透射成像装置，安装在移动框架上，限定沿第一方向延伸的检查通道，配置成能够构建位于所述检查通道上的被检查对象的透射图像；衍射检测装置，安装在移动框架上，配置成能够检测被检查对象的至少一部分的特性；其中所述移动框架能够承载所述透射成像装置和所述衍射检测装置沿第一方向移动。
百度查询： 同方威视技术股份有限公司 清华大学 检查设备、检查方法以及检查系统
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皖公网安备 34010402703815号