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一种基于天线衍射法的天线罩电性能分析方法 

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申请/专利权人:赵英燕

摘要:本发明公开了一种基于天线衍射法的天线罩电性能分析方法,包括计算天线‑天线罩系统的方向图、计算天线罩外壁的有效电压传输系数、天线‑天线罩系统的远场方向图计算、天线罩的罩体数据获取、天线阵列口面场远场计算,最后进行天线阵列-异形天线罩体的电性能仿真,验证了程序具有强大的天线罩系统电性能分析功能,可以完成很多其他天线阵列‑天线罩系统的电性能仿真。本发明通过结合MATLAB的图形可视化功能进行天线的三维方向图仿真。仿真实现了对天线阵列在旋转过程中的三维方向图的可视化和天线‑天线罩系统的可视化三维方向图的仿真,可观察到罩体形状对天线阵列辐射的影响,对异形天线罩进行了电性能分析。

主权项:1.一种基于天线衍射法的天线罩电性能分析方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、计算天线-天线罩系统的方向图:获得天线的口面场,对于远场P点的电场,可引用克希霍夫衍射公式;S2、计算天线罩外壁的有效电压传输系数:需要计算天线发出的射线与天线罩曲面所形成的入射角,以及极化角ξ,根据计算可以得到的极化角分解平行极化以及垂直极化的分量,再通过计算两种极化下,射线透过天线罩壁对应的电压传输系数和插入相位延迟;S3、天线-天线罩系统的远场方向图计算:考虑天线阵列激励条件设计和计算等效传输系数的影响因素;S4、天线罩的罩体数据获取:通过具体的母线函数表达式,将罩体数据转换成三维罩体曲面函数,完成天线罩体形状的建模;对罩体模型进行离散化处理,即解决罩体函数取值的问题,利用MATLAB软件获取罩体数据;S5、天线阵列口面场远场计算:基于天线衍射公式,给定天线的阵列排布、天线口面的形状和天线单元的电压幅值,计算天线远场方向图,完成天线阵列的波束调控、扫描,以及天线罩仿真中瞄准误差的计算。

全文数据:

权利要求:

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