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申请/专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
摘要：本发明提供了一种检查设备及其检查方法、检查系统。检查设备包括透射成像装置，配置成构建被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，配置成检测被检查对象的至少一部分的特性。透射成像装置限定检查通道。衍射检测装置能够移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。
主权项：1.一种检查设备，包括：透射成像装置，配置成构建所述被检查对象的透射图像；和衍射检测装置，配置成朝向被检查对象照射辐射并通过检查从被检查对象的至少一部分衍射的辐射而检测所述被检查对象的至少一部分的特性，其中，透射成像装置限定检查通道，被检查对象在检查通道中被移动而被透射成像装置扫描；衍射检测装置能够沿检查通道的延伸方向的横向移动至特定位置检测被检查对象的至少一部分衍射的辐射。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 同方威视技术股份有限公司 清华大学 检查设备、检查方法和检查系统
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