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摘要：本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种WAT测试系统、方法及可读存储介质，系统包括WAT机台、转接板及探针卡，WAT机台配置有多个信号源开关矩阵，信号源开关矩阵通过转接板与探针卡的电路板连接，信号源开关矩阵的数量大于探针卡上探针的数量，且一个信号源开关矩阵对应导通一个探针，转接板被配置为用于切换信号源开关矩阵与探针的对应关系。通过在WAT机台的信号源开关矩阵和探针卡的电路板之间增加一个转接板进行转接，从而可通过转接板灵活更改信号源开关矩阵和探针的对应导通关系，将异常信号源开关矩阵替换为闲置且正常的信号源开关矩阵，在不需要立即更换异常信号源开关矩阵情况下保证WAT机台的正常测试。
主权项：1.一种WAT测试系统，其特征在于，包括WAT机台、转接板及探针卡，所述WAT机台配置有多个信号源开关矩阵，所述信号源开关矩阵通过所述转接板与所述探针卡的电路板连接，所述信号源开关矩阵的数量大于所述探针卡上探针的数量，且一个所述信号源开关矩阵对应导通一个所述探针，所述转接板被配置为用于切换所述信号源开关矩阵与所述探针的对应关系。
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百度查询： 杭州积海半导体有限公司 WAT测试系统、方法及可读存储介质
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