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待测设计SM3模块的验证方法、装置、电子设备及存储介质 

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申请/专利权人:龙芯中科技术股份有限公司

摘要:本发明实施例提供了待测设计SM3模块的验证方法、装置、设备及存储介质。方法包括:根据待测设计SM3模块的测试用例配置和随机种子,产生多个功能点对应的测试序列,驱动器通过序列发生器从序列中请求测试序列,发送到待测设计SM3模块,输出端监控器接收第一结果数据,发送给比较器,输入端监控器将测试序列发送给SM3参考模型,根据测试序列进行功能仿真,得到第二结果数据,发送给比较器,对第一结果数据和第二结果数据进行比较,得到验证结果,使得利用一系列针对待测设计SM3模块的通用验证组件,来对待测设计SM3模块的功能点进行验证,为测试用例构造验证场景提供了更加灵活的方式,提高了验证开发的可重用性和兼容性,继而提高了验证效率。

主权项:1.一种待测设计SM3模块的验证方法,其特征在于,包括:根据待测设计SM3模块的测试用例配置和随机种子,产生所述待测设计SM3模块的多个功能点对应的测试序列;驱动器通过序列发生器从序列中请求所述测试序列,将请求到的所述测试序列通过接口组件发送到所述待测设计SM3模块;输出端监控器接收所述待测设计SM3模块的输出的第一结果数据,将所述第一结果数据发送给比较器;输入端监控器通过所述接口组件得到发送给所述待测设计SM3模块的测试序列,并将所述测试序列发送给SM3参考模型;所述SM3参考模型根据所述测试序列进行功能仿真,得到模拟SM3算法相对应的第二结果数据,将所述第二结果数据发送给所述比较器;所述比较器对所述第一结果数据和第二结果数据进行比较,得到所述待测设计SM3模块的多个功能点的验证结果。

全文数据:

权利要求:

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