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申请/专利权人：合肥大唐存储科技有限公司
摘要：本发明公开了一种可靠的SSD开卡方法，该开卡方法包括如下步骤：PF1流程→F1流程→QC流程→质检流程。所述PF1流程包括如下步骤：a.将RDT固件烧入SSD，进行DDR和FLASH的参数设置，并将PF1的CardMark标志写入NandInfoBlock中,在下个F1流程中读出来此标志位；b.将PF1开卡完成的SSD，放入RDT高温老化柜中上电测试，RDT固件会启动测试，并生成RDTLog，最终可以筛选出不合格的SSD，其中包括了硬件焊接问题、NandFlash问题、PMIC、DDR以及主控问题；c.进行DDR测试和NandFlash测试。本发明通过通过软件代码来控制流程的严谨性。目的在于解决SSD产品稳定性和可靠性低下的问题，最终使得SSD产品开卡过程更严谨，更可靠。
主权项：1.一种可靠的SSD开卡方法，其特征在于，该开卡方法包括如下步骤：PF1流程→F1流程→QC流程→质检流程。
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百度查询： 合肥大唐存储科技有限公司 一种可靠的SSD开卡方法
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