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申请/专利权人：江苏智瞄数码科技有限公司
摘要：半导体光学检测设备用可防取出破坏的分类装置及方法，属于半导体技术领域，为解决现有在利用光学检测设备检测出半导体材料的质量，需要人工将半导体材料进行分类存放进储存箱内，不仅容易出现误操作，还增加了劳动成本的问题；本发明通过检测终端包括激光检测模块，激光检测模块电性连接质量分析模块，质量分析模块电性连接质量判断模块，质量判断模块电性连接单片机，单片机电性连接信号收发模块，信号收发模块电性连接第一电机与第二电机，第一电机的输出端设置有第一分类机构，第二电机的输出端设置有第二分类机构，实现了自动分类的目的，解决了需要人工将半导体材料进行分类存放进储存箱内，不仅容易出现误操作，还增加了劳动成本的问题。
主权项：1.半导体光学检测设备用可防取出破坏的分类装置，包括机体（1），以及安装在机体（1）上端的工作架（2），工作架（2）的侧端安装有控制面板（3），机体（1）的内壁安装有输送主体（4），工作架（2）的内腔顶板安装有检测终端（5），其特征在于：检测终端（5）包括激光检测模块（51），激光检测模块（51）电性连接质量分析模块（52），质量分析模块（52）电性连接质量判断模块（53），质量判断模块（53）电性连接单片机（54），单片机（54）电性连接信号收发模块（55），信号收发模块（55）电性连接第一电机（56）与第二电机（57）；第一电机（56）的输出端设置有第一分类机构（58），第二电机（57）的输出端设置有第二分类机构（59），第一分类机构（58）与第二分类机构（59）的组成结构相同，且第一分类机构（58）与第二分类机构（59）关于工作架（2）的中心对称分布。
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权利要求：
百度查询： 江苏智瞄数码科技有限公司 半导体光学检测设备用可防取出破坏的分类装置及方法
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