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申请/专利权人：南通睿智超临界科技发展有限公司
摘要：本发明涉及玻璃质量检测技术领域，具体涉及一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，该方法包括：利用光学手段获取仪器表盘玻璃表面的可见光图像记为待分析图像，提取图像中的直线得到待分析线段，并将待分析图像划分为固定大小的块区域；根据块区域内待分析线段的数量得到第一系数，根据块区域内待分析线段之间的距离获取第二系数，根据块区域内待分析线段的长度得到第三系数，进而得到缺陷程度指标；根据缺陷程度指标得到缺陷异常矩阵，对缺陷异常矩阵进行分解得到特征值；根据特征值以及特征值的数量得到质量检测指标；根据质量检测指标得到仪器表盘的玻璃质量检测结果。本发明获得的仪器表盘的玻璃质量检测结果的精度较高。
主权项：1.一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：将仪器表盘玻璃表面的可见光图像记为待分析图像，对待分析图像进行直线检测得到待分析线段，并将待分析图像划分为固定大小的块区域；根据块区域内包含的待分析线段的数量得到第一系数，根据块区域内包含的待分析线段之间的距离获取第二系数，根据块区域内包含的待分析线段的长度得到第三系数，根据第一系数、第二系数和第三系数得到块区域的缺陷程度指标；根据块区域的缺陷程度指标得到待分析图像的缺陷异常矩阵，对缺陷异常矩阵进行分解得到特征值；根据特征值以及特征值的数量得到待分析图像的质量检测指标；根据质量检测指标得到仪器表盘的玻璃质量检测结果；其中，所述第一系数的获取方法具体为：对于任意一个块区域，以该块区域内所有待分析线段上像素点的总数量与该块区域内所有像素点的总数量之间的比值作为第一系数；所述第二系数的获取方法具体为：对于任意一个块区域，当块区域内待分析线段的数量小于预设的数量阈值时，将块区域的第二系数的取值设置为预设的第一数值；当块区域内待分析线段的数量大于或等于预设的数量阈值时，计算任意两条待分析线段的中点之间的距离记为特征距离，以块区域内所有任意两条待分析线段对应的特征距离的均值作为第二系数；所述第三系数的获取方法具体为：对于任意一个块区域，以所有待分析线段的长度的均值作为第三系数。
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权利要求：
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