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一种用于发光检测系统的读数站 

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申请/专利权人:深圳市博辰智控有限公司

摘要:本实用新型公开了一种用于发光检测系统的读数站,包括箱体、测量池1、磁铁模块和驱动组件;测量池设置在箱体内腔的顶部;磁铁模块和驱动组件均设置在箱体内,磁铁模块位于测量池的下方;驱动组件在电机的驱动下,能驱动磁铁模块在箱体内做竖向升降运动;磁铁模块中的磁铁头与测量池底部接触时,磁铁模块位于测量位;磁铁模块向下脱离测量池后,磁铁模块位于非测量位。该用于发光检测系统的读数站结构紧凑,易于实施。

主权项:1.一种用于发光检测系统的读数站,其特征在于,包括箱体、测量池1、磁铁模块和驱动组件;测量池设置在箱体内腔的顶部;磁铁模块和驱动组件均设置在箱体内,磁铁模块位于测量池的下方;驱动组件在电机的驱动下,能驱动磁铁模块在箱体内做竖向升降运动;磁铁模块中的磁铁与测量池底部接触时,磁铁模块位于测量位;磁铁模块向下脱离测量池后,磁铁模块位于非测量位。

全文数据:

权利要求:

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