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半导体场效应晶体管及其制备方法 

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申请/专利权人:北京中科新微特科技开发股份有限公司

摘要:本申请涉及半导体领域,公开了一种半导体场效应晶体管及其制备方法,其中,半导体场效应晶体管包括:栅极沟槽形成于阱区内,栅极沟槽包括底部氧化层和侧壁氧化层,底部氧化层沿第一方向包括第一氧化部分和第二氧化部分,第一氧化部分与侧壁氧化层接触,第二氧化部分的厚度大于第一氧化部分的厚度;阱区越过第一氧化部分;导流层与底部氧化层接触,导流层沿第一方向包括第一导流部分和第二导流部分,第一导流部分与第一氧化部分相对,第二导流部分与第二氧化部分相对,第一导流部分的掺杂浓度低于第二导流部分的掺杂浓度。用以解决栅极沟槽底部拐角处易击穿问题,通过阱区越过栅极沟槽较薄的第一氧化部分,改善栅极沟槽拐角处电场集中效应;氧化层较厚的第二氧化部分对应的第二导流部分的掺杂浓度较高,可以有效降低导通电阻。

主权项:1.一种半导体场效应晶体管,其特征在于,包括:衬底;外延层,所述外延层设置于所述衬底上;阱区,所述阱区设置于所述外延层内,且位于所述外延层背离所述衬底的一侧;栅极沟槽,所述栅极沟槽形成于所述阱区内,所述栅极沟槽包括底部氧化层和侧壁氧化层,所述底部氧化层沿第一方向包括第一氧化部分和第二氧化部分,所述第一氧化部分与所述侧壁氧化层接触,所述第二氧化部分的厚度大于所述第一氧化部分、所述侧壁氧化层的厚度;沿所述栅极沟槽的深度方向,所述阱区越过所述第一氧化部分;导流层,所述导流层形成在所述外延层内,所述导流层与所述底部氧化层接触,所述导流层的导电类型与所述阱区的导电类型相反;所述导流层沿所述第一方向包括第一导流部分和第二导流部分,所述第一导流部分与所述第一氧化部分相对,所述第二导流部分与所述第二氧化部分相对,所述第一导流部分的掺杂浓度低于所述第二导流部分的掺杂浓度。

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权利要求:

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