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一种芯片开短路检测方法 

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申请/专利权人:广东涌固科技有限公司

摘要:本发明提供了一种芯片开短路检测方法,所述恒流电源模块,通过运放LM324PWR的虚短虚断应用原理,得到一个恒流源输出,用于导通芯片内部二极管从而获取到二极管的正向导通电压;所述主控模块,用于控制模拟开关,通过AD采样模块得到开短路信息;所述模拟开关切换模块,用于换不同的IO测试开短路,分别测试上二极管以及下二极管的导通状态。本发明针对现有模组的开短路测试电路,成本高,电路复杂等问题。

主权项:1.一种芯片开短路检测方法,其特征在于,所述检测方法使用开短路检测电路,所述芯片开短路检测电路包括主控模块、模拟开关切换模块和恒流电源模块;所述恒流电源模块,通过运放的虚短虚断应用原理,得到一个恒流源输出,用于导通芯片内部二极管从而获取到二极管的正向导通电压;所述主控模块,用于控制模拟开关,通过AD采样模块得到开短路信息;所述模拟开关切换模块,用于不同的IO测试开短路,分别测试上二极管以及下二极管的导通状态;所述AD采样模块,配合恒流模块使用,采样二极管钳拉电压;所述芯片开短路检测还包括通信模块和电源模块,所述通信模块,将MCU采集到的数据信息传输到上位机存储;所述电源模块,生成不同的电压值,用于不同模块的供电;所述模拟开关切换模块分别与主控模块、恒流电源模块和芯片C相连接;所述主控模块接收模拟开关切换模块的AD采样模块,所述主控模块向模拟开关切换模块发送控制信号,所述模拟开关切换模块接收恒流电源模块的电信号;所述芯片C的IO口分别与下二极管和上二极管相连接,所述模拟开关切换模块与下二极管和上二极管形成可选择开关;所述模拟开关切换模块的I1-端与芯片C的上二极管的IOVDD端相连接,所述模拟开关切换模块的I2+端与芯片C的下二极管的GND端相连接,所述模拟开关切换模块的I2-端与I1+端均与芯片C的IO口配合使用,实现上二极管与下二极管的分别采样。

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