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申请/专利权人：中国科学院半导体研究所
摘要：本发明提供了一种激光器的相噪测量装置，可以应用于光通信技术领域。该装置包括：待测激光器，用于输出待测的激光信号；光相位调制器，用于将第一射频信号调制到激光信号上，输出相位调制光信号；光凹陷滤波器，用于对调制信号进行滤波，输出强度调制光信号；光电探测器，用于对强度调制光信号进行探测，输出第二射频信号；射频相噪测量系统，用于将第二射频信号进行相噪分析，得到相噪测量结果；控制电路，用于使得光凹陷滤波器的中心角频率等于激光信号的角频率与第一射频信号的角频率的和或差。本发明还提供了一种激光器的相噪测量方法，可精确测量激光器的相噪。
主权项：1.一种激光器的相噪测量装置，其特征在于，包括：待测激光器，用于输出待测的激光信号；光相位调制器，用于将第一射频信号调制到所述激光信号上，输出相位调制光信号；光凹陷滤波器，用于对所述调制信号进行滤波，输出强度调制光信号；光电探测器，用于对所述强度调制光信号进行探测，输出第二射频信号；射频相噪测量系统，用于将所述第二射频信号进行相噪分析，得到相噪测量结果；控制电路，用于使得所述光凹陷滤波器的中心角频率等于所述激光信号的角频率与所述第一射频信号的角频率的和或差。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院半导体研究所 一种激光器的相噪测量装置及方法
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