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半导体装置的制造装置 

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申请/专利权人:株式会社新川

摘要:本发明提供一种能够通过简单的构造检测吸嘴的异常的半导体装置的制造装置。半导体装置的制造装置10包括:吸嘴30,沿着中心轴形成吸引孔20,在作为末端面的保持面38吸引保持半导体芯片100;检查相机50,从下方拍摄未保持所述半导体芯片100的状态的所述吸嘴30,获取吸嘴检查图像;及控制器52,基于所述吸嘴检查图像,算出表示所述吸嘴30的异常度的评估指标,并基于所述评估指标,判断所述吸嘴30有无异常,或向操作员提示所述评估指标。

主权项:1.一种半导体装置的制造装置,其特征在于,包括:吸嘴,沿着中心轴形成有吸引孔,在作为末端面的保持面吸引保持芯片;检查相机,从下方拍摄未保持所述芯片的状态的所述吸嘴,获取吸嘴检查图像;及控制器,基于所述吸嘴检查图像,算出表示所述吸嘴的异常度的评估指标,基于所述评估指标判断所述吸嘴有无异常、或向操作员提示所述评估指标。

全文数据:

权利要求:

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