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申请/专利权人：兆易创新科技集团股份有限公司
摘要：本发明提供一种存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法，通过存储器测试模组耦接相应的输入输出接口和参数寄存器，可以使得存储器芯片在出厂前测试所需的基本电学参数通过输入输出接口输入，在出厂后测试所需的基本电学参数可以根据需要通过输入输出接口输入，也可以从参数寄存器中获取，由此同时兼容出厂前的生产者和出厂后的使用者的测试需求。而且当存储器测试模组集成在存储器芯片的封装体中时，在测试时只需要将探针扎在输入输出接口上，就可以通过存储器测试模组实现存储器芯片中的大量存储器裸芯批量化测试以及测试结果的批量化读取，相对现有的存储器芯片的测试引脚更少，降低测试成本，大大提高测试效率。
主权项：1.一种存储器测试模组，其特征在于，耦接输入输出接口、参数寄存器和存储器芯片的各个存储器裸芯，所述参数寄存器用于存储所述存储器芯片出厂后测试所需的基本电学参数；其中，所述存储器测试模组用于在所述存储器芯片出厂前，根据所述输入输出接口接收的基本电学参数控制相应的至少一个存储器裸芯的电源及测试管理系统，并进一步根据所述输入输出接口接收的测试指令对所述至少一个存储器裸芯进行逐一测试或批量化测试，以及，在所述存储器芯片出厂后，根据所述输入输出接口接收的基本电学参数或者所述参数寄存器中预存的基本电学参数控制相应的至少一个存储器裸芯的电源及测试管理系统，并进一步根据所述输入输出接口接收的测试指令对所述至少一个存储器裸芯进行逐一测试或批量化测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 兆易创新科技集团股份有限公司 存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法
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