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申请/专利权人：溧阳壹连电子有限公司

摘要：本发明提供了一种NTC热敏电阻测试方法、系统和存储介质，包括：采集导通电平数据，判断被测试的NTC热敏电阻是否已接入测试回路；获取预设的NTC温度控制数据，根据所述NTC温度控制数据驱使NTC热敏电阻的温度值发生变化；执行温度特性测试程序，判断所述NTC热敏电阻的温度特性是否合格；执行响应时间测试程序，判断所述NTC热敏电阻的响应时间是否合格；执行稳定性测试程序，判断所述NTC热敏电阻的稳定性是否合格。通过导通电平判断NTC热敏电阻接入测试回路后，控制NTC热敏电阻在特定的时间点达到特定的温度值，然后进行温度特性测试、响应时间测试和稳定性测试，对NTC热敏电阻进行全面分析和深度评估，进而准确评判NTC热敏电阻的综合性能。

主权项：1.一种NTC热敏电阻测试方法，其特征在于，所述方法基于温度控制元件、温度采集元件、电阻测试元件、计时元件和NTC热敏电阻，所述温度控制元件用于控制所述NTC热敏电阻的温度，所述温度采集元件用于采集所述NTC热敏电阻的温度值，所述电阻测试元件用于测试所述NTC热敏电阻的电阻值，所述计时元件用于记录测试过程的时间点，所述方法包括以下步骤：S1.采集导通电平数据，根据导通电平数据判断被测试的NTC热敏电阻是否已接入测试回路；当导通电平数据显示被测试的NTC热敏电阻已接入测试回路则执行下一测试步骤，当导通电平数据显示被测试的NTC热敏电阻未接入测试回路则输出未导通提示并终止测试；S2.获取预设的NTC温度控制数据，所述NTC温度控制数据包括多组相互对应的时间点和温度值，根据所述NTC温度控制数据驱使NTC热敏电阻的温度值发生变化，控制所述NTC热敏电阻在特定的时间点达到特定的温度值；S3.执行温度特性测试程序；输出控制信号实时采集所述NTC热敏电阻的实际温度值，同步采集所述NTC热敏电阻的实际电阻值，根据所述NTC热敏电阻的实际温度值和实际电阻值，绘制实际温度-电阻特性曲线；获取预设的理想温度-电阻特性曲线，通过对比理想温度-电阻特性曲线和实际温度-电阻特性曲线进行温度特性测试，判断所述NTC热敏电阻的温度特性是否合格，输出温度特性测试结果；S4.执行响应时间测试程序，判断所述NTC热敏电阻的响应时间是否合格，输出响应时间测试结果；S5.执行稳定性测试程序，判断所述NTC热敏电阻的稳定性是否合格，输出稳定性测试结果。

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