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申请/专利权人：齐鲁中科光物理与工程技术研究院
摘要：本发明涉及本发明具体涉及一种热膨胀系数测量装置及其工作方法。所述热膨胀系数测量装置包括探测器、光源和降温盒，所述降温盒通过石英绝热块固定在底座上；所述降温盒为中空结构，其内部设置有供冷媒流动的流道。本发明可针对单一材料、串联的不同材料组合结构，或复合材料进行测量，通过对反射光斑偏移位置进行计算，得两种试样的材料热膨胀系数差值；当所述测量装置为双槽结构时，上槽为试样A与试样B，下槽为试样A与试样C,可直接对比反射光斑偏移程度，如果下槽反射光斑位置偏移大于上槽，则判定试样B相对试样C材料对试样A的匹配效果更好。
主权项：1.一种热膨胀系数测量装置的工作方法，所述热膨胀系数测量装置包括探测器、光源和降温盒，所述降温盒通过石英绝热块固定在底座上；所述降温盒为中空结构，其内部设置有供冷媒流动的流道，降温盒的前部设置有开口向前的槽，所述槽内固定设置一对试样；一对试样的外侧固定设置有反光刻度板；所述一对试样为尺寸相同的长方体；探测器和光源设置在所述槽的前侧；光源发出的探测光线与反光刻度板垂直并位于一对试样之间的中心位置，其特征在于，包括步骤如下：1将试样通过低温胶粘在试样支撑座上，两个试样在试样支撑座上居中对称；2将反光刻度板通过低温胶粘到一对试样的外侧；将粘连的试样、试样支撑座和反光刻度板整体经过烘烤粘接；3将粘接有试样的试样支撑座固定到降温盒的槽内；4将冷媒通入流道，在预冷完成后，试样产生热应变，导致反光刻度板产生倾斜；5记录反射光刻度的位置及尺寸变化，计算试样的热膨胀差异，具体计算方法如下：试样的厚度为T，两个试样的距离为L1，光源直射入反光刻度板，探测器距离反光刻度板的距离为L2，温度变化为Δt；反光刻度板倾斜后，探测器光斑位置偏移为Δx，反射光与入射光夹角为α，光斑偏移量与入射方向成直角；α＝arctanΔxL2由于光学反射关系，反射板倾斜角β＝α2；设试样A与试样B的热膨胀系数差值为y，则T×y×ΔtL1＝tanβy＝tan12×arctanΔxL2×L1T×Δt。
全文数据：
权利要求：
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