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申请/专利权人：无锡国芯微高新技术有限公司

摘要：本申请涉及一种数模混合芯片的模块自测试方法、装置、设备及存储介质，应用在数模混合芯片测试技术领域，包括判断数模混合芯片的待测试模块的类型，所述待测试模块的类型包括模拟模块和ADC模块；根据判断得到的待测试模块的类型，利用所述自测试单元对所述待测试模块进行测试。本申请具有的技术效果是：提高数模混合芯片测试效率，降低数模混合芯片的测试成本。

主权项：1.一种数模混合芯片的模块自测试方法，其特征在于：所述方法应用于数模混合芯片的模块自测试系统，所述数模混合芯片的模块自测试系统包括自测试单元，所述方法包括：判断数模混合芯片的待测试模块的类型，所述待测试模块的类型包括模拟模块和ADC模块；根据判断得到的待测试模块的类型，利用所述自测试单元对所述待测试模块进行测试；所述数模混合芯片的模块自测试系统还包括滤波单元和电压驱动单元，所述自测试单元包括驱动子单元和比对子单元；若所述待测试模块为模拟模块，则所述利用所述自测试单元对所述待测试模块进行测试包括：控制所述驱动子单元产生模拟驱动信号，并将所述模拟驱动信号传输至所述待测试模块；控制所述模拟模块对所述模拟驱动信号进行处理，并生成模拟测试信号；控制所述比对子单元将所述模拟测试信号和所述模拟驱动信号进行比对；若比对不一致，则控制所述比对子单元输出所述模拟测试信号以及对应的故障状态；在所述控制所述模拟模块对所述模拟驱动信号进行处理，并生成模拟测试信号之后，还包括：控制所述滤波单元对所述模拟测试信号进行处理，并生成模拟滤波信号；所述控制所述比对子单元将所述模拟测试信号和所述模拟驱动信号进行比对包括：控制所述比对子单元将所述模拟滤波信号和所述模拟驱动信号进行比对；若所述待测试模块为ADC模块，则所述利用所述自测试单元对所述待测试模块进行测试包括：获取不同的电压测试档位，控制所述驱动子单元根据所述电压测试档位产生对应的电压测试信号；控制所述电压驱动单元根据所述电压测试信号产生对应的测试电压，并将所述测试电压传输至待测试的ADC模块；控制所述待测试的ADC模块将所述测试电压转换为对应的电压数字信号，并将所述电压数字信号传输至所述比对子单元；控制所述比对子单元将所述电压数字信号和所述电压测试信号进行比对；若比对不一致，则输出所述电压测试信号以及测试结果。

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