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申请/专利权人：合肥工业大学
摘要：本发明提供基于STM32的非接触式材料电学性质测量方法及系统，方法包括：利用电涡流传感器靠近不同的被测材料，测量电路响应变化，以得到电涡流传感器的电感变化数据；根据电感变化数据，进行电磁场理论分析、电涡流传感器理论分析、电容三点式振荡电路理论分析，得到材料磁场强度分布，以推断被测材料的电性学性质；对被测材料进行实验及模拟仿真，获取并根据实验数据，建立并存储不同温度下的电路响应数据库；基于STM32控制芯片，设计电涡流传感器的电容三点式振荡电路，实时采集电路响应数据，与电路响应数据库进行比较，以获取并显示电学性质检测结果。本发明解决了环境干扰、材料复杂性以及测量模型复杂的技术问题。
主权项：1.基于STM32的非接触式材料电学性质测量方法，其特征在于，所述方法包括：S1、利用电涡流传感器靠近不同的被测材料，测量电路响应变化，以得到电涡流传感器的电感变化数据；S2、根据所述电感变化数据，进行电磁场理论分析、电涡流传感器理论分析、电容三点式振荡电路理论分析，得到材料磁场强度分布，以推断所述被测材料的电性学性质；S3、对所述被测材料进行实验及模拟仿真，获取并根据所述实验数据，建立并存储不同温度下的电路响应数据库；S4、基于STM32控制芯片，设计所述电涡流传感器的电容三点式振荡电路，实时采集电路响应数据，与所述电路响应数据库进行比较，以获取并显示电学性质检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥工业大学 基于STM32的非接触式材料电学性质测量方法及系统
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