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申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司
摘要:本公开提供了一种存储器、内建自测试方法和测试系统,该存储器包括用于对数据校验得到的错误数据位进行计数的计数器,在存储器进行内建自测试的过程中,每检测到1个数据错误则产生1个标志脉冲信号,并利用计数器对标志脉冲信号进行计数。
主权项:1.一种存储器,其特征在于,所述存储器包括计数器,且所述计数器用于对数据校验得到的错误数据位进行计数;所述存储器还包括内建自测试模块;所述内建自测试模块,配置为利用内建自测试逻辑进行自测试,并在执行所述自测试的过程中,每检测到1个数据错误,输出1个标志脉冲信号;所述计数器,与所述内建自测试模块连接,配置为在所述自测试的过程中,接收所述标志脉冲信号,对所述标志脉冲信号进行计数。
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百度查询: 长鑫存储技术有限公司 存储器、内建自测试方法和测试系统
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