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申请/专利权人：天津大学
摘要：本发明公开一种三维图像辅助XRF光谱分析的磨粒颗粒度效应校正方法，S1.建立磨粒颗粒度效应校正模型：S2.利用磨粒颗粒度效应校正装置同时获取辐照区域内的磨粒三维图像和XRF光谱数据；S3.通过计算机处理磨粒三维图像，获得辐照区域内的磨粒形态参数；S4.通过计算机处理XRF光谱数据，获得磨粒内待分析元素的实际特征X射线荧光强度Ii'；S5.将磨粒形态参数代入磨粒颗粒度效应校正模型，获得待分析元素理论特征X射线荧光强度Ii；S4.根据Sherman方程计算待分析元素含量Ci，获得磨粒内待分析元素的含量，实现磨粒颗粒度效应校正。
主权项：1.一种三维图像辅助XRF光谱分析的磨粒颗粒度效应校正装置，其特征在于，包括载物台101、共焦显微镜102、光束扫描位移台103、光谱仪104、扫描位移台控制器105、计算机106、X射线源107、SDD探测器108、多道分析器109；所述载物台101水平放置，所述共焦显微镜102通过光束扫描位移台103固定并设置于载物台101正上方，所述X射线源107和SDD探测器108分别设置于载物台101上方的两侧；所述光束扫描位移台103依次与扫描位移台控制器105和计算机106相连，共焦显微镜102依次与光谱仪104和计算机106相连；所述计算机106依次与多道分析器109和SDD探测器108相连；所述共焦显微镜102包括白光点光源、色散镜头、分光镜；通过计算机106控制共焦显微镜102的位移扫描范围，使形态检测区域与X射线在载物台101的辐照区域重合，通过时序控制采集XRF光谱和显微图像数据，实现共区域磨粒元素及形态的检测。
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权利要求：
百度查询： 天津大学 一种三维图像辅助XRF光谱分析的磨粒颗粒度效应校正方法
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