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申请/专利权人：清华大学
摘要：本发明涉及叠层衍射成像技术领域，特别涉及一种测量物质中自旋分布的叠层成像方法与装置，其中，方法包括：采用目标粒子束对样品进行扫描，获得实验衍射数据集；参数化初始照明粒子源函数和物函数，获得初始化后的照明粒子源函数、初始化后的物函数和待优化参数；基于叠层成像技术中正向传播过程，利用初始化后的照明粒子源函数和初始化后的物函数计算目标样品的模拟衍射数据集；根据模拟衍射数据集和实验衍射数据集对待优化参数进行优化，获得目标样品的自旋分布。由此，解决了传统叠层成像方法没有考虑自旋密度或磁矢势在出射波中表现出的特殊相位结构，造成自旋分布无法精确测量的问题。
主权项：1.一种测量物质中自旋分布的叠层成像方法，其特征在于，包括以下步骤：采用目标粒子束对目标样品进行扫描，获得实验衍射数据集；使用待优化参数初始照明粒子源函数和物函数，获得初始化后的照明粒子源函数和初始化后的物函数，其中，所述初始化后的物函数包括电荷函数和自旋函数，所述待优化参数包括粒子源函数的参数、电荷函数的参数和自旋函数的参数；基于叠层成像技术中正向传播过程，利用所述初始化后的照明粒子源函数和所述初始化后的物函数计算所述目标样品的模拟衍射数据集；根据所述模拟衍射数据集和所述实验衍射数据集对所述待优化参数进行优化，获得所述目标样品的自旋分布。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 清华大学 测量物质中自旋分布的叠层成像方法与装置
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