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申请/专利权人：迪亚马特斯有限公司
摘要：用于分析非铁金属的X射线设备包括产生低能量辐射束的X射线源1以及X射线光谱仪4，这些部件彼此间以及与待分析的样品2足够近地布置，以能够同时执行荧光和康普顿反向散射分析，利用两种现象识别金属和非金属轻质材料，特别是用于分离铝和镁轻合金。
主权项：1.X射线分析设备，包括：X射线源1，被配置为向待分析的样品2发射沿发射轴线A的辐射束；X射线光谱仪4，相对于所述X射线源1定位在所述样品2的同一侧，以沿检测轴线A'检测荧光和反向散射光谱，光谱分辨率至少为10％，优选地为3-4％；以及控制单元，被配置为接收来自所述X射线光谱仪4的读出数据；其特征在于，所述X射线源1具有以下特征：阳极-阴极电压在25-45千伏范围内；功率在1-50瓦范围内，优选地在5-20瓦范围内；沿所述发射轴线A距用于传输所述样品2的传送带或滑道的距离在3-100毫米范围内，优选地在10-60毫米范围内；其发射轴线A与所述X射线光谱仪4的所述检测轴线A'之间的角度α不大于40度，优选地不大于30度，更优选地不大于20度；其包括准直器，所述准直器在所述样品2上生成辐照区，所述辐照区在所述样品2的供给的纵向方向上的尺寸在10和30毫米之间，而在垂直于所述纵向方向的方向上的尺寸在5和20毫米之间；其中所述X射线光谱仪4被放置在沿所述检测轴线A'与所述传送带或滑道相距的一定距离处，所述距离在3-100毫米范围内，优选地对于重金属分析在10-50毫米范围内，而对于轻金属分析在10-30毫米范围内；其中所述控制单元被配置为用于：a从所述光谱的连续部分计算第一反向散射分量IBS1和由于所述源1的阳极材料的特征线的反向散射引起的第二分量IBS2，IBS1被测量为所述连续部分中没有荧光线落在的部分中的强度的积分，并且IBS2被测量为所述阳极的特征线的能量的88％和96％之间的部分中的强度的积分；b相对于空气中的测量值对IBS1的值和IBS2的值进行归一化处理以得到纯数；c与所述光谱的总强度和基于待识别的材料适当地选择的荧光线相结合地使用这些被归一化的IBS1的值和IBS2的值中的一个或两个。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 迪亚马特斯有限公司 用于非铁金属的分析的X射线设备和相关操作方法
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