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申请/专利权人：安捷芯科技有限公司
摘要：一种基于AWG的CWDM光学子模块的测试方法，包括如下步骤；S1，基于WDM方法对AWG芯片的波长信号进行合并以及分散；S2，所述AWG芯片具有Core层以及cladding层，其中光信号在所述Core层向前发射并于所述AWG芯片输出端端面反射，并通过所述cladding层输出到空气中；S3，于所述AWG芯片的输出端设置有光探测器PD，所述光检测器PD接收到光信号后传输至PC，以使PC对输出的光谱进行计算和分析，以确认AWG的光学特性。
主权项：1.一种基于AWG的CWDM光学子模块的测试方法，其特征在于，包括如下步骤；S1，基于WDM方法对AWG芯片的波长信号进行合并以及分散；S2，所述AWG芯片具有Core层以及cladding层，其中光信号在所述Core层向前发射并于所述AWG芯片输出端端面反射，并通过所述cladding层输出到空气中；S3，于所述AWG芯片的输出端设置有光探测器PD，所述光检测器PD接收到光信号后传输至PC，以使PC对输出的光谱进行计算和分析，以确认AWG的光学特性。
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百度查询： 安捷芯科技有限公司 一种基于AWG的CWDM光学子模块的测试方法
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