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一种在外加电场下频域瞬态热反射原位测量系统 

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申请/专利权人:南京师范大学

摘要:本发明公开了一种在外加电场下频域瞬态热反射原位测量系统,该系统包括泵浦光路和探测光路,所述泵浦光路上依次设有激光器,光隔离器,反射镜,第一分束器,衰减片,半波片和第四分束器,所述探测光路上依次设有激光器,光隔离器,反射镜,半波片和偏振分束器;泵浦激光与探测激光合束后,依次经过14波片,分束器和反射镜,最后由物镜聚焦到待测样品上;探测激光探测到待测样品以后发生反射,依次经过偏振分束器,第四分束器,带通滤波镜,最后由透镜聚焦到光电探测器上。本发明一方面减少了光学元件造成的背景噪声以及降低了光路调试的难度,提高了信噪比;另一方面实现了可以在外加电场的情况下原位测量样品的热物性参数。

主权项:1.一种在外加电场下频域瞬态热反射原位测量系统,其特征在于:该系统包括泵浦光路和探测光路,所述泵浦光路上依次设有激光器,光隔离器,反射镜,第一分束器3,衰减片2,半波片和第四分束器25,所述探测光路上依次设有激光器,光隔离器,反射镜,半波片和偏振分束器23;泵浦激光进入第四分束器25后通过偏振分束器23,与探测激光合束,依次经过14波片21,分束器和反射镜,最后由物镜14聚焦到待测样品30上;探测激光探测到待测样品30以后发生反射,依次经过偏振分束器23,第四分束器25,带通滤波镜26,最后由透镜聚焦到光电探测器1上。

全文数据:

权利要求:

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