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申请/专利权人：重庆大学
摘要：本发明公开用于电子信息产品故障模式耦合状态的危害度计算方法，具体包括以下步骤：S1：分别对电子信息产品的硬件和软件进行危害分析得到危害分析结果，并确定严酷度；S2：根据危害分析结果计算软件和硬件故障模式的耦合率；S3：根据硬件和软件的危害分析结果和耦合率构建耦合矩阵表；S4：根据耦合率计算危害度；S5：将危害度和严酷度进行关联，绘制危害度矩阵图。
主权项：1.用于电子信息产品故障模式耦合状态的危害度计算方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1：分别对电子信息产品的硬件和软件进行危害分析得到危害分析结果，并确定严酷度；S2：根据危害分析结果计算软件和硬件故障模式的耦合率；S3：根据硬件和软件的危害分析结果和耦合率构建耦合矩阵表；S4：根据耦合率计算危害度；S5：将危害度和严酷度进行关联，绘制危害度矩阵图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 重庆大学 用于电子信息产品故障模式耦合状态的危害度计算方法
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