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用于适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定的方法和装置 

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申请/专利权人:博里利斯股份公司

摘要:一种用于适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定的方法,该方法包括以下步骤:提供S1至少一组操作设定参数,该至少一组操作设定参数包括用于聚合物产品的频率扫描测量的至少一个频率范围,该至少一个频率范围包括多个特定测量频率;通过删除多个特定测量频率中的在频率范围的下半部分内的至少一个测量频率来优化S2频率范围,从而产生第一优化的频率范围;以及通过确定在频率范围的至少一个子范围内的每十进位频率存在的测量频率的值并且通过删除该至少一个子范围的至少一个测量频率来减少在频率范围的至少一个子范围内的每十进位存在的测量频率的所确定的值来优化S3第一优化的频率范围,从而产生第二优化的频率范围。

主权项:1.一种用于适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定的方法,所述方法包括以下步骤:-提供S1至少一组操作设定参数,所述至少一组操作设定参数包括用于所述聚合物产品的所述频率扫描测量的至少一个频率范围,所述至少一个频率范围包括多个特定测量频率;-通过删除所述多个特定测量频率中的在所述频率范围的下半部分内的至少一个测量频率来优化S2所述频率范围,从而产生第一优化的频率范围;以及-通过确定在所述频率范围的至少一个子范围内的每十进位频率存在的测量频率的值并且通过删除所述至少一个子范围的至少一个测量频率来减少在所述频率范围的所述至少一个子范围内的每十进位存在的测量频率的所确定的值来优化S3所述第一优化的频率范围,从而产生第二优化的频率范围。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 博里利斯股份公司 用于适配用于聚合物产品的频率扫描测量的操作设定的方法和装置

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