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申请/专利权人：西安紫光国芯半导体股份有限公司
摘要：本申请公开了一种自测方法、测试装置以及计算机可读存储介质。自测方法包括：通过第一逻辑信号控制所述专用集成芯片切换至自测模式，且启动所述专用集成芯片的时钟锁相环；通过参考时钟信号控制所述专用集成芯片的时钟锁相环运行，获取所述时钟锁相环的状态；响应于所述时钟锁相环处于锁住状态，则对每个所述存储单元进行写入和读取的操作，得到测试结果。通过这种方式，无需大量额外逻辑和布线资源，降低测试成本。
主权项：1.一种自测方法，其特征在于，用于测试专用集成芯片，所述专用集成芯片设有多个存储单元，所述专用集成芯片进一步包括多个逻辑核心单元和多个片上网络单元，每个所述存储单元和每个所述逻辑核心单元分别与对应的所述片上网络单元连接，所述自测方法包括:通过第一逻辑信号控制所述专用集成芯片切换至自测模式，且启动所述专用集成芯片的时钟锁相环；通过参考时钟信号控制所述专用集成芯片的时钟锁相环运行，获取所述时钟锁相环的状态；响应于所述时钟锁相环处于锁住状态，则对每个所述存储单元进行写入和读取的操作，得到测试结果；在所述启动所述专用集成芯片的时钟锁相环的步骤之后，所述自测方法进一步包括：基于第二逻辑信号判断是否对所有所述逻辑核心单元进行测试；响应于所述第二逻辑信号为第一电平，则测试所有所述逻辑核心单元，执行所述通过参考时钟信号控制所述专用集成芯片的时钟锁相环运行的步骤；响应于所述第二逻辑信号为第二电平，则执行所述通过参考时钟信号控制所述专用集成芯片的时钟锁相环运行的步骤。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安紫光国芯半导体股份有限公司 自测方法、测试装置以及计算机可读存储介质
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