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提高IGBT模块键合点位键合质量的框架结构及设计方法 

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申请/专利权人:赛晶亚太半导体科技(浙江)有限公司

摘要:本发明涉及一种提高IGBT模块键合点位键合质量的框架结构及设计方法;包括如下步骤:将框架与底板组装,在底板上标记多个支撑点,各支撑点与框架上的各键合点位对应,以底板的左端为底板起始点,计算各支撑点处底板的形变,在框架下端面标记多个与键合点位对应的形变点,计算形变点处的形变,将获得的各框架弧度和上下对应的底板弧度进行差值运,获得多个间隙值;在框架的形变点增加与各键合点位一一对应的垫块,各垫块厚度等于对应位置的间隙值,或在垫板支撑点固接与对应位置间隙值相等厚度的垫块;将带有垫块的框架与底板组装和压紧后,获得框架结构,或将框架与带有垫块的底板组装和压紧后,获得框架结构,该框架结构有助于提高铝线键合质量。

主权项:1.一种提高IGBT模块键合点位键合质量的框架结构设计方法,其特征在于:包括如下步骤:将框架(1)与底板(2)组装,在底板(2)上标记多个支撑点,各支撑点与框架(1)上的各键合点位上、下一一对应,获取各支撑点处的底板弧度;在框架(2)下端面标记多个与键合点位上、下一一对应的形变点,获取各形变点处的框架弧度;将获得的各框架弧度和上下对应的底板弧度进行差值运算,获得多个间隙值;在框架(2)的形变点增加与各键合点位一一对应的垫块(3),各垫块(3)厚度等于对应位置的间隙值,或在垫板支撑点固接与对应位置间隙值相等厚度的垫块(3);将带有垫块(3)的框架(2)与底板(1)组装和压紧后,获得框架结构,或将框架(2)与带有垫块(3)的底板(1)组装和压紧后,获得框架结构。

全文数据:

权利要求:

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