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申请/专利权人：成都信息工程大学
摘要：本发明公开了一种基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法，属于偏振态检测领域，包括以下步骤：S1、设计由各向异性十字型超单元组成的超构表面的相位，并计算全斯托克斯参数的理论值；S2、构建超构表面的仿真模型，并计算全斯托克斯参数的仿真值；S3、将不同偏振态入射光的斯托克斯参数的理论值与仿真值进行对比，对全斯托克斯参数的理论值进行验证；S4、制备超构表面样品，计算全斯托克斯参数的实验值；S5、将不同偏振态入射光的全斯托克斯参数的理论值与实验值进行对比，以对全斯托克斯参数的理论值再次验证。本发明采用上述基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法，有效实现了太赫兹波段偏振信息的准确检测。
主权项：1.一种基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、设计由各向异性十字型超单元组成的全硅介质超构表面的相位，并计算全斯托克斯参数的理论值；S2、构建步骤S1所述的超构表面的仿真模型，并计算全斯托克斯参数的仿真值；S3、将不同偏振态入射光的斯托克斯参数的理论值与斯托克斯参数的仿真值进行对比，并绘制单位庞加莱球，对全斯托克斯参数的理论值进行验证；S4、采用紫外光刻蚀技术或者电感耦合等离子体刻蚀技术制备步骤S1所述的超构表面样品，计算全斯托克斯参数的实验值；S5、将不同偏振态入射光的全斯托克斯参数的理论值与全斯托克斯参数的实验值进行对比，以对全斯托克斯参数的理论值再次验证。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都信息工程大学 基于圆偏振复用超构表面的快照式太赫兹偏振检测方法
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