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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第五十四研究所
摘要：本发明公开了一种测量毫米波反射面样品反射损耗的方法。本发明首先将标准增益喇叭指向天顶方向，喇叭口放置微波吸波材料制作的常温负载，用频谱分析仪测量系统输出的归一化噪声功率的大小；然后将标准增益喇叭水平放置在金属反射器内，喇叭口前方依次放置与水平方向成45°角的金属样板、待测样品和吸波材料屏，用频谱分析仪分别测量出系统输出的归一化噪声功率的大小；最后，由测量的归一化噪声功率，计算毫米波反射面样品的反射损耗。本发明的方法简单可行，具有推广和应用价值。
主权项：1.一种测量毫米波反射面样品反射损耗的方法，其特征在于，包括以下步骤：1首先，将标准增益喇叭指向天顶方向，喇叭口放置常温负载，用频谱分析仪测量系统输出的归一化噪声功率N0，单位为dBmHz；然后，将标准增益喇叭水平放置在金属反射器内，在喇叭口前方分别放置与水平方向成45°角的金属样板、待测毫米波反射面样品、吸波材料屏，用频谱分析仪测量放置不同物品时系统输出的相应的归一化噪声功率NS、NX、NP；2利用下式计算待测样品的反射损耗： 式中：RL—待测毫米波反射面样品的反射损耗，单位为dB；N0—标准增益喇叭口置常温负载时系统输出的归一化噪声功率，单位为dBmHz；NS—标准增益喇叭前方置金属样板时系统输出的归一化噪声功率，单位为dBmHz；NX—标准增益喇叭前方置待测样品时系统输出的归一化噪声功率，单位为dBmHz；NP—标准增益喇叭前方置吸波材料屏时系统输出的归一化噪声功率，单位为dBmHz；完成毫米波反射面样品反射损耗的测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种测量毫米波反射面样品反射损耗的方法
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