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申请/专利权人：深圳市瑞桔电子有限公司

摘要：本发明公开了一种触控显示屏的电磁干扰检测方法、装置、设备及存储介质，包括：预设若干种电磁干扰信号类型，计算每种电磁干扰信号类型的干扰强度指数；根据预设的电磁干扰信号类型，依次对触控显示屏进行干扰触控测试，得到触控显示屏在每种干扰强度指数下，对应的触控性能指标；基于预设的回归算法，得到干扰强度指数与触控性能指标的第一映射关系；实时监测触控显示屏的环境电磁干扰，得到当前电磁干扰数据，并根据第一映射关系，预测触控显示屏的当前触控性能指标；根据当前触控性能指标，对触控显示屏进行反补偿。本发明能够有效检测和提升触控显示屏在各种电磁干扰环境下的稳定性和性能可靠性，从而显著改善用户体验和系统可靠性。

主权项：1.一种触控显示屏的电磁干扰检测方法，其特征在于，所述触控显示屏的电磁干扰检测方法包括：预设若干种电磁干扰信号类型，计算每种电磁干扰信号类型的干扰强度指数；所述每种电磁干扰信号类型对应不同的电磁强度、频率范围和持续时间；根据预设的电磁干扰信号类型，依次对所述触控显示屏进行干扰触控测试，得到所述触控显示屏在每种干扰强度指数下，对应的触控性能指标；所述触控性能指标包括：触控延迟、误触率和触控精度；基于预设的回归算法，得到所述干扰强度指数与所述触控性能指标的第一映射关系；实时监测触控显示屏的环境电磁干扰，得到当前电磁干扰数据，并根据所述第一映射关系，预测所述触控显示屏的当前触控性能指标；根据所述当前触控性能指标，对所述触控显示屏进行反补偿；其中，所述预设若干种电磁干扰信号类型，计算每种电磁干扰信号类型的干扰强度指数；所述每种电磁干扰信号类型对应不同的电磁强度、频率范围和持续时间，包括：预设所述电磁干扰信号的干扰参数；所述干扰参数包括：干扰功率、干扰频率和干扰持续时间；根据所述干扰参数计算所述干扰强度指数；所述干扰强度指数的计算公式为：，其中是干扰强度指数；是干扰功率；f是干扰频率；T是干扰持续时间；、、和是调整因子，用于平衡各干扰参数在干扰强度指数中的相对重要性；其中，所述根据预设的电磁干扰信号类型，依次对所述触控显示屏进行干扰触控测试，得到所述触控显示屏在每种干扰强度指数下，对应的触控性能指标，包括：所述触控性能指标包括：触控延迟、误触率和触控精度；在每种所述电磁干扰信号类型下，按照预设的触控点坐标、触控持续时间和滑动路径的进行所述干扰触控测试；记录从用户触控动作到系统响应的时间差，得到所述触控延迟；统计在每种所述电磁干扰信号类型下，所述触控显示屏误识别的触控次数与总触控次数的比例，计算所述误触率；计算在每种所述干扰强度指数下所述触控显示屏的实际触控坐标与目标触控坐标的平均坐标偏差，评估所述触控精度；根据所述触控显示屏的触控延迟、误触率和触控精度，生成所述触控性能指标；其中，所述实时监测触控显示屏的环境电磁干扰，得到当前电磁干扰数据，并根据所述第一映射关系，预测所述触控显示屏的当前触控性能指标，包括：通过内置的传感器，实时监测触控显示屏的环境电磁干扰，获取所述环境电磁干扰的电磁强度、频率范围和持续时间；根据所述环境电磁干扰的电磁强度、频率范围和持续时间，基于所述干扰强度指数的计算公式，计算当前干扰强度指数；将所述当前干扰强度指数输入预设所述回归算法，根据所述第一映射关系，预测所述触控显示屏的当前触控性能指标；其中，所述根据所述当前触控性能指标，对所述触控显示屏进行反补偿，包括：根据所述触控显示屏的当前触控性能指标，基于第一映射关系，预测当前的触控延迟、当前的误触率和当前的触控精度；将所述当前的触控延迟，与无干扰条件下所述触控显示屏的平均触控延迟做差，得到延迟差；根据所述延迟差，对所述触控显示屏的采样频率进行反补偿调节；若延迟差越大，则对应调节更高的采样频率；将所述当前的误触率，与无干扰条件下所述触控显示屏的平均误触率做差，得到误触水平；根据所述误触水平，对所述触控显示屏的灵敏度进行反补偿调节；误触水平越高，则对应调节更低的灵敏度；根据所述当前的触控精度，匹配当前的平均坐标偏差；将当前检测到的实际触控的坐标减去当前的平均坐标偏差，得到当前的优化坐标；根据所述当前的优化坐标，生成触控响应。

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