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申请/专利权人：北京航空航天大学
摘要：本发明公开了基于相位调制的双光梳光谱测量系统的和方法。在该测量系统中：双光梳生成单元产生两套重复频率略有差异的光频梳，两套广告频梳之间存在光频差绝对值相等的光梳齿组合，信号发生器产生调制信号调制光频梳1与光频梳2之间的光相位差，将两个光频梳的至少一个输入待测单元中并输出，并将两光频梳共同输入光探测器中通过拍频产生测量信号，在拍频过程中，光频差的绝对值相等的光梳齿组合会同频拍频分量并叠加形成测量信号；数据采集处理单元对测量信号进行采样、处理以获得待测单元的光谱信息。本发明能够利用两套光频梳之间变化的光相位差消除由具有相同光频差的光梳齿组合拍频产生的同频拍频混叠，可以采用该技术进行简便、低成本、易集成的双光梳光谱测量。
主权项：1.一种基于相位调制的双光梳光谱测量系统，其特征在于，包括：双光梳生成单元、信号发生器、待测单元、光探测器、数据采集处理单元；其中双光梳生成单元产生一个具有频率间隔f1的光频梳1和另一个具有另一频率间隔f2的光频梳2，频率间隔f1与另一频率间隔f2具有重复频率差△f，光频梳1的光梳齿和光频梳2的光梳齿之间存在光频差的绝对值相等的不同光梳齿组合，双光梳生成单元调制光频梳1和光频梳2之间的光相位差；信号发生器产生调制信号输入到双光梳生成单元，双光梳生成单元根据调制信号调制光频梳1与光频梳2之间的光相位差；将光频梳1输入到待测单元；将光频梳2直接与经过待测单元的光频梳1一同输入到光探测器上产生拍频信号，或将光频梳2也经过待测单元后与经过待测单元的光频梳1一同输入到光探测器上产生拍频信号，光频梳1和光频梳2之中的光频差的绝对值相等的不同光梳齿组合在拍频信号中产生频率等于光频差的绝对值的同频拍频分量，同频拍频分量之间的相位差受光频梳1和光频梳2之间的光相位差影响，各个拍频分量的叠加形成测量信号；数据采集处理单元对测量信号进行采样，并根据不同光相位差下测量信号的差异，从测量信号中分别解析出同频拍频分量各自的幅度或相位，从而获得待测单元的光谱信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京航空航天大学 一种基于相位调制的双光梳光谱测量系统与方法
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