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申请/专利权人：深圳市国检珠宝检测检验中心有限公司
摘要：本发明公开了一种金包银制品金层金含量与金质量快速测定方法，其包括如下步骤：步骤S1，利用预设的X射线荧光光谱仪检测金包银制品表面金含量及金层厚度，并对所述金包银制品加工形成银裸露口；步骤S2，利用预设的化学试剂溶解所述金包银制品中的银成分，金银分离后得到金片层；步骤S3，利用所述X射线荧光光谱仪检测所述金片层的金含量，再利用预设的电子分析天平检测所述金片层的质量。本发明结合X射线荧光光谱法与化学试剂溶解分离法，不仅能快速准确地测出金质量及金含量，而且对金包银制品金质量无损耗，较好地满足了工艺要求。
主权项：1.一种金包银制品金层金含量与金质量快速测定方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1，利用预设的X射线荧光光谱仪检测金包银制品表面金含量及金层厚度，并对所述金包银制品加工形成银裸露口；步骤S2，利用预设的化学试剂溶解所述金包银制品中的银成分，金银分离后得到金片层；步骤S3，利用所述X射线荧光光谱仪检测所述金片层的金含量，再利用预设的电子分析天平检测所述金片层的质量。
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