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申请/专利权人：九江明阳电路科技有限公司
摘要：本发明涉及PCB制造技术领域，尤指一种用于测量层偏数据的方法，包括：在每张内层芯板的四角处设置有靶点，在每张内层芯板的表面建立直角坐标系，为靶点标上对应的坐标；通过计算靶点的坐标获取每张内层芯板在X方向涨缩量和在Y方向上涨缩量；通过比较相邻两张内层芯板在X方向涨缩量的变化量和在Y方向涨缩量的变化量获取相邻两张内层芯板的涨缩量；通过本发明不仅可以量化出压合的综合层偏，还为系数调整提供了明确的数据，提高芯板在压合后的精度，减少时间浪费和降低成本。
主权项：1.一种用于测量层偏数据的方法，所述层偏数据包括涨缩量和偏移量，其特征在于，包括：在每张内层芯板的四角处设置有靶点，在所述每张内层芯板的表面建立直角坐标系，为所述靶点标上对应的坐标；通过计算所述靶点的坐标获取每张内层芯板在X方向涨缩量和在Y方向上涨缩量；通过比较相邻两张内层芯板在X方向涨缩量的变化量和在Y方向涨缩量的变化量获取相邻两张内层芯板的涨缩量；通过计算相邻两张内层芯板在同一个任意角所述靶点的坐标来获取偏移量。
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百度查询： 九江明阳电路科技有限公司 一种用于测量层偏数据的方法
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