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申请/专利权人：西安空间无线电技术研究所

摘要：一种相控阵高低温下GT值测试方法，包括如下步骤：步骤一、将待测天线放置在透波温箱内，朝向一侧。将发射放置在透波温箱外，与待测天线对准。步骤二、用射频电缆连接待测天线与接收机形成测试路，用射频电缆连接信号源、耦合器、发射天线、同时穿过透波温箱连接接收机形成参考路。步骤三、利用控制线缆连接控制电脑、待测天线、信号源、接收机、温度控制设备。步骤四、利用控制电脑控制各个设备进行温度控制、信号开关以及测试路与参考路的信号采集。步骤五、按照本发明提出了方法对采集数据进行处理并结合常规测试时得到的天线GT值以及对应的温度进行计算，得到相控阵高低温下的GT值测量结果。

主权项：1.一种相控阵高低温下GT值测试方法，其特征在于，包括：1将待测天线放置在透波温箱内，将发射放置在透波温箱外，与待测天线对准；发射装置与待测天线的距离不需要满足远场距离要求；2待测天线与接收机的端口1连接，信号源输出的信号经耦合器后分别传输到发射天线和接收机的端口2；耦合器到接收机端口2的电缆长度与待测天线到接收机端口1的电缆长度之差不超过预定值；3控制电脑分别连接待测天线、信号源、接收机、温度控制设备；4利用控制电脑控制温度控制设备工作并达到指定温度，控制信号源发射指定频率信号，控制接收机对端口1信号进行采集记录为P3t，对端口2信号进行采集记录为Ref3t；5利用控制电脑关闭信号源，控制接收机对端口1信号进行采集记录为P2t，对端口2信号进行采集记录为Ref2t；6利用控制电脑控制待测天线关闭自身，控制接收机对端口1信号进行采集记录为P1t，对端口2信号进行采集记录为Ref1t；7利用控制电脑更换测试频率重复步骤4～步骤6，直至完成其他所有指定频率的采集；8利用控制电脑控制温度设备进行温度设定，等待达到指定温度后重复步骤4～步骤7完成该温度下所有频率的数据采集工作；9根据步骤4～步骤8采集所得数据通过下式计算得到待测天线在温变下的GT值变化量； 式中，ΔGTtdB为GT值随温度的变化值的dB形式，k为波尔兹曼常数，B为测试P2时所选择的积分带宽；10测得的天线在t0温度下的GT值通过下式计算得到不同温度下的GT值：GTtdB＝GTt0dB+ΔGTtdB式中，GTtdB相控阵不同温度的GT值，GTt0dB相控阵在常规场地t0温度下测得的GT值，t0为参考温度。

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